Gepatenteerd testsysteem detecteert early-life-failures en zet daarmee nieuwe standaards voor kwaliteit en betrouwbaarheid van servergeheugens
Nieuwegein, augustus 2005 - Kingston Technology, onafhankelijk internationaal marktleider op het gebied van geheugenproducten, heeft in de Verenigde Staten patent verkregen op de KT2400 Dynamic Burn-in Tester (patent no. 6,910,162 B2). Dit testplatform is door Kingston zelf ontwikkeld en ontworpen om in servergeheugenmodules zogenoemde early-life-failures op te sporen. Daarmee brengt Kingston de kwaliteitsnorm van de se..
lees verder