Wet van Moore levend door Ultrafast High-Throughput Atomic Force Microscopy (HT-AFM)
Deze week is bekend gemaakt dat Nearfield Instruments B.V., een TNO spin-off uit Delft, twee investeerders heeft gevonden waardoor Nearfield Instruments de ontwikkeling kan starten van zijn eerste ultra snelle high-throughput Atomic Force Microscopy (HT-AFM) systeem voor metrologie van geavanceerde IC's. Hiermee kan bestaande AFM tot 1000x sneller worden gemaakt dan voorheen. Dit maakt de AFM-oplossing van Nearfield Instruments van..
lees verder